Počet záznamů: 1
Comparing single-shot damage thresholds of boron carbide and silicon at the European XFEL
- 1.
SYSNO 0602980 Název Comparing single-shot damage thresholds of boron carbide and silicon at the European XFEL Tvůrce(i) Tavakkoly, M. (DE)
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Hillert, W. (DE)
Jelínek, Šimon (FZU-D) ORCID
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Makita, M. (DE)
Mazza, T. (DE)
Meyer, M. (DE)
Montaño, J. (DE)
Sinn, H. (DE)
Vozda, Vojtěch (FZU-D) ORCID
Vannonia, M. (DE)Zdroj.dok. Journal of Synchrotron Radiation. Roč. 31, č. 5 (2024), s. 1067-1070. - : Oxford Blackwell Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant LM2023068 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova damage threshold * single-shot damage threshold * B4C coating * X-ray mirrors * XFEL URL https://hdl.handle.net/11104/0360257 Trvalý link https://hdl.handle.net/11104/0360257 Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0602980.pdf 0 2.2 MB CC Licence Vydavatelský postprint povolen
Počet záznamů: 1