Počet záznamů: 1  

Comparing single-shot damage thresholds of boron carbide and silicon at the European XFEL

  1. 1.
    Tavakkoly, M. - Chalupský, Jaromír - Hájková, Věra - Hillert, W. - Jelínek, Šimon - Juha, Libor - Makita, M. - Mazza, T. - Meyer, M. - Montaño, J. - Sinn, H. - Vozda, Vojtěch - Vannonia, M.
    Comparing single-shot damage thresholds of boron carbide and silicon at the European XFEL.
    Journal of Synchrotron Radiation. Roč. 31, č. 5 (2024), s. 1067-1070. ISSN 0909-0495. E-ISSN 1600-5775
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2023068
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 2.4, rok: 2023 ; AIS: 0.878, rok: 2023
    Způsob publikování: Open access
    DOI: https://doi.org/10.1107/S1600577524007318
    https://hdl.handle.net/11104/0360257
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.