Počet záznamů: 1
Environmental stability and ageing of ScN thin films from XPS Ar.sup.+./sup. depth profiling
- 1.CICHOŇ, S., MORE CHEVALIER, J., WDOWIK, U. D., DE PRADO, E., BULÍŘ, J., NOVOTNÝ, M., FEKETE, L., DUCHOŇ, J., LEGUT, D., LANČOK, J. Environmental stability and ageing of ScN thin films from XPS Ar+ depth profiling. Applied Surface Science. 2024, 674(Nov), 160867. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584. Dostupné z: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2024.160867.
Počet záznamů: 1