Počet záznamů: 1

X-ray fluorescence imaging for determining layer thicknesses

SYSNO	0567887
Název	X-ray fluorescence imaging for determining layer thicknesses
Tvůrce(i)	Vavřík, Daniel (UTAM-F)_{RID, SAI, ORCID}
Korespondující/senior	Vavřík, Daniel - Korespondující autor
Vyd. údaje	2023
Vlastník	Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.
Datum udělení patentu	04.01.2023
Číslo patentového spisu	EP3828534
Kategorie patentu	A - EPO (Evropský patentový úřad)
Kód vydavatele patentu	EPO_1 - European Patent Office Munich, The Hague, Berlin, Vienna, Brusselshttp://www.epo.org/
Teritoriální ochrana	EPC - evropský patent podle Evropské patentové úmluvy
Druh dok.	Patentový dokument
Grant	EF16_019/0000766 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	UTAM-F - RVO:68378297
Jazyk dok.	eng
Klíč.slova	stratigraphy * in-situ X-ray methods
URL	https://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/074099624/publication/EP3828534A1?q=pn%3DEP3828534A1
Trvalý link	https://hdl.handle.net/11104/0339145

Počet záznamů: 1