Počet záznamů: 1  

X-ray fluorescence imaging for determining layer thicknesses

  1. 1.
    Vavřík, Daniel
    X-ray fluorescence imaging for determining layer thicknesses.
    2023. Vlastník: Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení patentu: 04.01.2023. Číslo patentu: EP3828534. Teritoriální ochrana: evropský patent podle Evropské patentové úmluvy .
    Obor OECD: Nuclear related engineering
    https://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/074099624/publication/EP3828534A1?q=pn%3DEP3828534A1
    https://hdl.handle.net/11104/0339145
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.