Počet záznamů: 1
X-ray fluorescence imaging for determining layer thicknesses
- 1.Vavřík, Daniel
X-ray fluorescence imaging for determining layer thicknesses.
2023. Vlastník: Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení patentu: 04.01.2023. Číslo patentu: EP3828534. Teritoriální ochrana: evropský patent podle Evropské patentové úmluvy .
Obor OECD: Nuclear related engineering
https://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/074099624/publication/EP3828534A1?q=pn%3DEP3828534A1
https://hdl.handle.net/11104/0339145
Počet záznamů: 1