Počet záznamů: 1  

X-ray fluorescence imaging for determining layer thicknesses

  1. SYS0567887
    LBL
      
    01000a^^22220027750^450
    005
      
    20240402213608.9
    100
      
    $a 20230203d m y slo 03 ba
    101
      
    $a eng
    200
    1-
    $a X-ray fluorescence imaging for determining layer thicknesses
    210
      
    $d 2023
    215
      
    $c E
    610
      
    $a stratigraphy
    610
      
    $a in-situ X-ray methods
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0101829 $a Vavřík $b Daniel $p UTAM-F $i Oddělení biomechaniky $j Department of Biomechanics $w Material Science $y CZ $z K $T Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.
    856
      
    $u https://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/074099624/publication/EP3828534A1?q=pn%3DEP3828534A1 $9 RIV
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.