Počet záznamů: 1
Radiation-induced phase separation in nanostructured Hf-In-C ternary thin films under irradiation with 200 keV Ar.sup.+./sup. ion beam
- 1.
SYSNO 0562898 Název Radiation-induced phase separation in nanostructured Hf-In-C ternary thin films under irradiation with 200 keV Ar+ ion beam Tvůrce(i) Vacík, J. (CZ)
Cannavó, A. (CZ)
Bakardjieva, S. (CZ)
Kupčík, Jaroslav (FZU-D) ORCID
Lavrentiev, V. (CZ)
Ceccio, G. (CZ)
Horák, P. (CZ)
Němeček, J. (CZ)
Verna, A. (IT)
Parmeggiani, M. (IT)
Calcagno, L. (IT)
Klie, R. (US)
Duchoň, Jan (FZU-D) ORCID, RIDZdroj.dok. Radiation Effects and Defects in Solids. Roč. 177, 1-2 (2022), s. 137-160. - : Taylor & Francis Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant LM2018110 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova ion beam synthesis * Hf-In-C nanocomposite * Hf2InC MAX phase * HfC0.95 phase * radiation tolerance URL https://doi.org/10.1080/10420150.2022.2049788 Trvalý link https://hdl.handle.net/11104/0335067
Počet záznamů: 1