Počet záznamů: 1  

Electrochemical Detection of Isolated Nanoscale Defects in 2D Transition Metal Dichalcogenides

  1. 1.
    SYSNO ASEP0559120
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevElectrochemical Detection of Isolated Nanoscale Defects in 2D Transition Metal Dichalcogenides
    Tvůrce(i) Cabré, M. B. (IE)
    Paiva, A. E. (IE)
    Velický, Matěj (UFCH-W) ORCID, RID, SAI
    Colavita, P.E. (IE)
    McKelvey, K. (IE)
    Zdroj.dok.Journal of Physical Chemistry C. - : American Chemical Society - ISSN 1932-7447
    Roč. 126, č. 28 (2022), s. 11636-11641
    Poč.str.6 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovaelectrochemistry ; redox reactions ; electrodes
    Vědní obor RIVCG - Elektrochemie
    Obor OECDElectrochemistry (dry cells, batteries, fuel cells, corrosion metals, electrolysis)
    Způsob publikováníOmezený přístup
    Institucionální podporaUFCH-W - RVO:61388955
    UT WOS000830924800001
    EID SCOPUS85135888077
    DOI10.1021/acs.jpcc.2c01656
    AnotaceWe show that nanometer and sub-nanometer scale defects in two-dimensional transition metal dichalcogenides can be detected electrochemically using scanning electrochemical cell microscopy (SECCM). We detect isolated anomalous electrochemical responses for the hexaammineruthenium ([Ru(NH3)6]3+/2+) redox couple on mono-, bi-, and trilayer regions of mechanically exfoliated MoS2. These anomalous sample points display faster electrochemical kinetics, with a diffusion-limited current plateau, compared to the surrounding sample points. The analysis of the electrochemical current suggests that the defects are equivalent to disk-shaped defects with radii of tens of nanometers, or to one-dimensional defects with nanometer to sub-nanometer widths. These results demonstrate that we can effectively isolate and electrochemically amplify the response from individual defects on a sample surface using SECCM, revealing features below the optical diffraction limit that would normally require high-resolution electron microscopy or scanning tunneling microscopy to detect.
    PracovištěÚstav fyzikální chemie J.Heyrovského
    KontaktMichaela Knapová, michaela.knapova@jh-inst.cas.cz, Tel.: 266 053 196
    Rok sběru2023
    Elektronická adresahttps://hdl.handle.net/11104/0332544
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.