Počet záznamů: 1
Trajectory displacement in a multi beam scanning electron microscope
- 1.
SYSNO 0549399 Název Trajectory displacement in a multi beam scanning electron microscope Tvůrce(i) Stopka, Jan (UPT-D) ORCID, SAI
Zuidema, W. (NL)
Kruit, P. (NL)Korespondující/senior Stopka, Jan - Korespondující autor Zdroj.dok. Ultramicroscopy. Roč. 223, April (2021). - : Elsevier Číslo článku 113223 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Jazyk dok. eng Země vyd. NL Klíč.slova Trajectory displacement * Multi-beam electron microscope * Coulomb interactions * Slice method * Electron optics Spolupracující instituce Delft University of Technology (Nizozemsko) URL https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S030439912100019X Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0325417
Počet záznamů: 1