Direct visualization of local deformations in suspended few-layer graphene membranes by coupled in situ atomic force and scanning electron microscopy

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0541300
Název	Direct visualization of local deformations in suspended few-layer graphene membranes by coupled in situ atomic force and scanning electron microscopy
Tvůrce(i)	Hummel, S. (AT) Elibol, K. (AT) Zhang, D. (CN) Sampathkumar, Krishna (UFCH-W)_{ORCID, RID} Frank, Otakar (UFCH-W)_{RID, ORCID} Eder, D. (AT) Schwalb, C. (AT) Kotakoski, J. (AT) Meyer, J.C. (AT) Bayer, B. C. (AT)
Korespondující/senior	Hummel, S. - Korespondující autor Bayer, B. C. - Korespondující autor
Zdroj.dok.	Applied Physics Letters. Roč. 118, č. 10 (2021). - : AIP Publishing
Číslo článku	103104
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	8J18AT005 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	UFCH-W - RVO:61388955
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	US
Klíč.slova	Scanning electron microscopy * Graphene * Atomic force microscopy
Spolupracující instituce	Universitat Wien Shanghai University Technische Universitat Wien GETec Microscopy GmbH
URL	http://hdl.handle.net/11104/0318881
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0318881

	Název souboru	Staženo	Velikost	Komentář	Verze	Přístup
	0541300.pdf	3	3.2 MB	open access	Vydavatelský postprint	povolen

Počet záznamů: 1