Počet záznamů: 1
Measurements of single event upset in ATLAS IBL
- 1.
SYSNO 0539534 Název Measurements of single event upset in ATLAS IBL Tvůrce(i) Balbi, G. (IT)
Barbero, M. (DE)
Beccherle, R. (IT)
Bindi, M. (DE)
Breugnon, P. (FR)
Butti, P. (CH)
Cinca, D. (DE)
Dickinson, J. (US)
Ferrere, D. (CH)
Fougeron, D. (FR)
Garcia-Sciveres, M. (US)
Pascual, J.G. (CN)
Gaudiello, A. (IT)
Gemme, C. (IT)
Giangiacomi, N. (IT)
Hemperek, T. (DE)
Jeanty, L. (US)
Kepka, Oldřich (FZU-D) RID, ORCID
Kocian, M. (US)
Lantzsch, K. (DE)
Liu, P. (US)
Martin, C. (US)
Mekkaoui, A. (US)
Menouni, M. (FR)
Potamianos, K. (US)
Rozanov, A. (FR)
Takubo, Y. (JP)
Wensing, M. (DE)Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. Roč. 15, č. 6 (2020), s. 1-30. - : Institute of Physics Publishing Číslo článku P06023 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant LTT17018 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova semiconductor detector: pixel * noise * ATLAS * electronics: readout URL http://hdl.handle.net/11104/0317254 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0317254 Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0539534.pdf 0 10.3 MB CC licence Vydavatelský postprint povolen
Počet záznamů: 1