Počet záznamů: 1
GaP/Si(001) interface study by XPS in combination with Ar gas cluster ion beam sputtering
- 1.Romanyuk, Olexandr - Gordeev, Ivan - Paszuk, A. - Supplie, O. - Stoeckmann, J.P. - Houdková, Jana - Ukraintsev, Egor - Bartoš, Igor - Jiříček, Petr - Hannappel, T.
GaP/Si(001) interface study by XPS in combination with Ar gas cluster ion beam sputtering.
Applied Surface Science. Roč. 514, Jun (2020), s. 1-8, č. článku 145903. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 6.707, rok: 2020
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.145903
http://hdl.handle.net/11104/0314015
Počet záznamů: 1