Počet záznamů: 1
GaP/Si(001) interface study by XPS in combination with Ar gas cluster ion beam sputtering
SYS 0536206 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103224939.3 014 $a 85080891661 $2 SCOPUS 014 $a 000523185200046 $2 WOS 017 70
$a 10.1016/j.apsusc.2020.145903 $2 DOI 100 $a 20201215d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a NL 200 1-
$a GaP/Si(001) interface study by XPS in combination with Ar gas cluster ion beam sputtering 215 $a 8 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0256173 $1 011 $a 0169-4332 $e 1873-5584 $1 200 1 $a Applied Surface Science $v Roč. 514, Jun (2020), s. 1-8 $1 210 $c Elsevier 608 $a Article 610 $a GaP/Si heterostructure 610 $a buried interface analysis 610 $a XPS 610 $a depth profiling 610 $a gas cluster ion beam sputtering 610 $a interface core level shifts 700 -1
$3 cav_un_auth*0100644 $a Romanyuk $b Olexandr $p FZU-D $i Optické materiály $j Optical Materials $z K $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0358499 $a Gordeev $b Ivan $p FZU-D $i Optické materiály $j Optical Materials $y RU $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0323411 $a Paszuk $b A. $y DE 701 -1
$3 cav_un_auth*0307556 $a Supplie $b O. $y DE 701 -1
$3 cav_un_auth*0401128 $a Stoeckmann $b J.P. $y DE 701 -1
$3 cav_un_auth*0237279 $a Houdková $b Jana $p FZU-D $i Optické materiály $j Optical Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0253375 $a Ukraintsev $b Egor $p FZU-D $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $y RU $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100128 $a Bartoš $b Igor $p FZU-D $i Strukturní analýza $j Structure Analysis $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100265 $a Jiříček $b Petr $p FZU-D $i Optické materiály $j Optical Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0295513 $a Hannappel $b T. $y DE 856 $u https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.145903 $9 RIV
Počet záznamů: 1