Počet záznamů: 1  

Laser-induced crystallization of anodic TiO.sub.2./sub. nanotube layers

  1. 1.
    SYSNO ASEP0533549
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevLaser-induced crystallization of anodic TiO2 nanotube layers
    Tvůrce(i) Sopha, H. (CZ)
    Mirza, M. Inam (FZU-D) ORCID
    Turčičová, Hana (FZU-D) RID, ORCID
    Pavliňák, D. (CZ)
    Michalička, J. (CZ)
    Krbal, M. (CZ)
    Rodriguez-Pereira, J. (CZ)
    Hromádko, L. (CZ)
    Novák, Ondřej (FZU-D) RID, ORCID
    Mužík, Jiří (FZU-D) ORCID
    Smrž, Martin (FZU-D) RID, ORCID
    Kolíbalová, E. (CZ)
    Goodfriend, Nathan (FZU-D) ORCID
    Bulgakova, Nadezhda M. (FZU-D) ORCID, RID
    Mocek, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Macák, J. M. (CZ)
    Celkový počet autorů16
    Zdroj.dok.RSC Advances. - : Royal Society of Chemistry - ISSN 2046-2069
    Roč. 10, č. 37 (2020), s. 22137-22145
    Poč.str.9 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.GB - Velká Británie
    Klíč. slovacrystallization ; TiO2 ; nanotube ; TNT ; X-ray diffraction ; HRTEM
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    Obor OECDOptics (including laser optics and quantum optics)
    CEPEF15_003/0000445 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    EF15_006/0000674 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    LO1602 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    LM2015086 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Způsob publikováníOpen access
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000542724200048
    EID SCOPUS85086805974
    DOI https://doi.org/10.1039/d0ra02929g
    AnotaceIn this study, crystallization of amorphous TiO2 nanotube (TNT) layers upon optimized laser annealing is shown. The resulting anatase TNT layers do not show any signs of deformation or melting. The crystallinity of the laser annealed TNT layers was investigated using X-ray diffraction, Raman spectroscopy, and high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM). The study of the (photo-) electrochemical properties showed that the laser annealed TNT layers were more defective than conventional TNT layers annealed in a muffle oven at 400 C, resulting in a higher charge recombination rate and lower photocurrent response. However, a lower overpotential for hydrogen evolution reaction was observed for the laser annealed TNT layer compared to the oven annealed TNT layer.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2021
    Elektronická adresahttp://hdl.handle.net/11104/0311915
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.