Počet záznamů: 1  

Ferromagnetic properties of MnSix and MnGex thin layers prepared by pulsed laser ablation.

  1. 1.
    SYSNO ASEP0524022
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevFerromagnetic properties of MnSix and MnGex thin layers prepared by pulsed laser ablation.
    Tvůrce(i) Koštejn, Martin (UCHP-M) RID, SAI, ORCID
    Fajgar, Radek (UCHP-M) RID, ORCID, SAI
    Dřínek, Vladislav (UCHP-M) RID, ORCID, SAI
    Jandová, Věra (UCHP-M) RID, ORCID, SAI
    Kupčík, Jaroslav (UCHP-M) RID, ORCID, SAI
    Huber, S. (CZ)
    Mikysek, Petr (GLU-S) SAI, ORCID
    Číslo článku123105
    Zdroj.dok.Materials Chemistry and Physics. - : Elsevier - ISSN 0254-0584
    Roč. 251, SEP 1 (2020)
    Poč.str.8 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CH - Švýcarsko
    Klíč. slovaferromagnetic material ; thin layer ; crystalline nanoparticles
    Vědní obor RIVCF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
    Obor OECDPhysical chemistry
    Vědní obor RIV – spolupráceGeologický ústav - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Způsob publikováníOpen access s časovým embargem (01.09.2022)
    Institucionální podporaUCHP-M - RVO:67985858 ; GLU-S - RVO:67985831
    UT WOS000549319900043
    EID SCOPUS85083815527
    DOI10.1016/j.matchemphys.2020.123105
    AnotacePulsed laser deposition and post-annealing was used for the preparation of MnSix and MnGex thin layers in order to study the increase of ferromagnetic properties related to crystalline phases. As-prepared samples were mainly amorphous with Mn concentration ranging from 20 to 50 at.%. Annealing of MnSix and MnGex layers at 600 °C and 350 °C, respectively, led to the formation of crystalline nanoparticles with the diameter from 10 to 20 nm. Magnetization measured at 300 K showed that the annealed MnSix layers exhibited magnetization of 0.07 μB/Mn atom. Magnetization of annealed MnGex layers varied depending on Mn concentration from 0.1 μ B/Mn atom (30 at.%) to 0.4 μ B/Mn atom (47 at.%). Resistivity measurements of the annealed layers showed values typical for highly degenerate silicon (~10-3.Ω.m) and germanium (~10-5.Ω.m). Temperature dependence of resistivity revealed that, after annealing, only MnSix layers with lower Mn concentration preserved a semiconducting behaviour.
    PracovištěÚstav chemických procesů
    KontaktEva Jirsová, jirsova@icpf.cas.cz, Tel.: 220 390 227
    Rok sběru2021
    Elektronická adresahttp://hdl.handle.net/11104/0308907
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.