Počet záznamů: 1  

Macromolecular nanocrystal structural analysis with electron and X-rays: a comparative review

  1. 1.
    SYSNO ASEP0521678
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevMacromolecular nanocrystal structural analysis with electron and X-rays: a comparative review
    Tvůrce(i) Khakurel, Krishna (FZU-D) ORCID
    Angelov, Borislav (FZU-D) ORCID
    Andreasson, Jakob (FZU-D) ORCID
    Celkový počet autorů3
    Číslo článku3490
    Zdroj.dok.Molecules. - : MDPI
    Roč. 24, č. 19 (2019), s. 1-13
    Poč.str.13 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CH - Švýcarsko
    Klíč. slovananocrystallography ; X-ray free-electron laser ; electron diffraction ; serial femtosecond crystallography ; 3-dimensional fourier synthesis ; protein-structure determination
    Vědní obor RIVBL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    Obor OECDFluids and plasma physics (including surface physics)
    CEPLQ1606 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Způsob publikováníOpen access
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000496242300075
    EID SCOPUS85072692907
    DOI10.3390/molecules24193490
    AnotaceCrystallography has long been the unrivaled method that can provide the atomistic structural models of macromolecules, using either X-rays or electrons as probes. The methodology has gone through several revolutionary periods, driven by the development of new sources, detectors, and other instrumentation. Novel sources of both X-ray and electrons are constantly emerging. The increase in brightness of these sources, complemented by the advanced detection techniques, has relaxed the traditionally strict need for large, high quality, crystals. Recent reports suggest high-quality diffraction datasets from crystals as small as a few hundreds of nanometers can be routinely obtained. This has resulted in the genesis of a new field of macromolecular nanocrystal crystallography. Here we will make a brief comparative review of this growing field focusing on the use of X-rays and electrons sources.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2020
    Elektronická adresahttp://hdl.handle.net/11104/0306270
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.