Počet záznamů: 1  

Thermal x-ray diffraction and near-field phase contrast imaging

  1. 1.
    SYSNO ASEP0510741
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevThermal x-ray diffraction and near-field phase contrast imaging
    Tvůrce(i) Li, Z. (US)
    Classen, A. (DE)
    Peng, T. (US)
    Medvedev, Nikita (FZU-D) ORCID, RID
    Wang, F. (DE)
    Chapman, H.N. (DE)
    Shih, Y. (US)
    Celkový počet autorů7
    Číslo článku16003
    Zdroj.dok.EPL : Europhysics Letters. - : Institute of Physics Publishing - ISSN 0295-5075
    Roč. 120, č. 1 (2017), s. 1-5
    Poč.str.5 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.FR - Francie
    Klíč. slovatheories of x-ray diffraction and scattering ; quantum description of interaction of light
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    Obor OECDOptics (including laser optics and quantum optics)
    CEPLG15013 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Způsob publikováníOmezený přístup
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000422616100014
    EID SCOPUS85040084048
    DOI10.1209/0295-5075/120/16003
    AnotaceUsing higher-order coherence of thermal light sources, the resolution power of standard x-ray imaging techniques can be enhanced. In this work, we applied the higher-order measurement to far-field x-ray diffraction and near-field phase contrast imaging (PCI), in order to achieve superresolution in x-ray diffraction and obtain enhanced intensity contrast in PCI. The cost of implementing such schemes is minimal compared to the methods that achieve similar effects by using entangled x-ray photon pairs.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2020
    Elektronická adresahttps://doi.org/10.1209/0295-5075/120/16003
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.