Počet záznamů: 1
Mechanism of single-shot damage of Ru thin films irradiated by femtosecond extreme UV free-electron laser
- 1.
SYSNO 0492824 Název Mechanism of single-shot damage of Ru thin films irradiated by femtosecond extreme UV free-electron laser Tvůrce(i) Milov, I. (NL)
Makhotkin, I.A. (NL)
Sobierajski, R. (PL)
Medvedev, Nikita (FZU-D) ORCID, RID
Lipp, V. (DE)
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Sturm, J.M. (NL)
Tiedtke, K. (DE)
de Vries, G. (NL)
Störmer, M. (DE)
Siewert, F. (DE)
van de Kruijs, R. (NL)
Louis, E. (NL)
Jacyna, I. (PL)
Jurek, M. (DE)
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Vozda, Vojtěch (FZU-D) ORCID
Burian, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
Saksl, K. (SK)
Faatz, B. (DE)
Keitel, B. (DE)
Ploenjes, E. (DE)
Schreiber, S. (DE)
Toleikis, S. (DE)
Loch, R. (DE)
Hermann, M. (DE)
Strobel, S. (DE)
Nienhuys, H.-K. (NL)
Gwalt, G. (DE)
Mey, T. (DE)
Enkisch, H. (DE)
Bijkerk, F. (NL)Zdroj.dok. Optics Express. Roč. 26, č. 15 (2018), s. 19665-19685. - : Optical Society of America Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA17-05167s GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika LG15013 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova free-electron lasers * XUV mirrors * Ruthenium material * single-shot damage of thin films Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0286255
Počet záznamů: 1