Complex nano-patterning of structural, optical, electrical and electron emission properties of amorphous silicon thin films by scanning probe

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0487144
Název	Complex nano-patterning of structural, optical, electrical and electron emission properties of amorphous silicon thin films by scanning probe
Tvůrce(i)	Fait, Jan (FZU-D)_ORCID Čermák, Jan (FZU-D)_{RID, SAI, ORCID} Stuchlík, Jiří (FZU-D)_{RID, ORCID} Rezek, Bohuslav (FZU-D)_{RID, ORCID}
Korespondující/senior	Fait, Jan - Korespondující autor
Zdroj.dok.	Applied Surface Science. Roč. 428, Jan (2018), s. 1159-1165. - : Elsevier
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	GA15-01809S GA ČR - Grantová agentura ČR
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	NL
Klíč.slova	amorphous silicon * nano-templates * nanostructures * electrical conductivity * electron emission * atomic force microscopy
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0283326

Počet záznamů: 1