Počet záznamů: 1
Graphene on microcrystalline silicon: Local photovoltaic characterization of a Schottky junction solar cell
- 1.
SYSNO ASEP 0480627 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název Graphene on microcrystalline silicon: Local photovoltaic characterization of a Schottky junction solar cell Tvůrce(i) Hájková, Zdeňka (FZU-D) RID, ORCID
Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Vetushka, Aliaksi (FZU-D) RID, ORCID
Stuchlík, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
Müller, Martin (FZU-D) RID, ORCID
Pikna, Peter (FZU-D) RID
Bouša, Milan (UFCH-W) RID, ORCID
Kalbáč, Martin (UFCH-W) RID, ORCID
Frank, Otakar (UFCH-W) RID, ORCID
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAICelkový počet autorů 10 Zdroj.dok. NANOCON 2016. List of Abstracts. - Ostrava : Tanger Ltd., 2016 / Shrbená J. - ISBN 978-80-87294-68-0
S. 37-37Poč.str. 1 s. Akce NANOCON 2016. International Conference /8./ Datum konání 19.10.2016 - 21.10.2016 Místo konání Brno Země CZ - Česká republika Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Klíč. slova graphene ; microcrystalline silicon ; Schottky junction ; photovoltaics ; C-AFM Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Obor OECD Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.) CEP GA14-15357S GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 ; UFCH-W - RVO:61388955 Anotace In this study, Schottky barrier-based solar cells composed of chemical vapour deposited graphene transferred onto hydrogenated microcrystalline silicon film were investigated. We demonstrated sample with an open-circuit voltage of 445 mV, a remarkable value for undoped graphene-based solar cell. Furthermore, photovoltaic properties of graphene/silicon junctions were characterised by current-voltage (I-V) curves obtained locally by conductive atomic force microscopy (C-AFM) and also macroscopically by standard I-V measurement using AM1.5G solar simulator. A very good correlation between both independent measurements proved the C-AFM as a highly useful tool for local photovoltaic characterization of 2D material/semiconductor junctions at the nano- and microscale.
Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2018
Počet záznamů: 1