Počet záznamů: 1  

Scanning thermal microscopy of thermoelectric pulsed laser deposited nanostructures

  1. 1.
    SYSNO ASEP0472513
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevScanning thermal microscopy of thermoelectric pulsed laser deposited nanostructures
    Tvůrce(i) Vaniš, Jan (FZU-D)
    Zelinka, Jiří (FZU-D) RID
    Zeipl, Radek (FZU-D) RID
    Jelínek, Miroslav (FZU-D) RID, ORCID
    Kocourek, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Remsa, Jan (FZU-D) RID, ORCID
    Navrátil, Jiří (UMCH-V) RID
    Celkový počet autorů7
    Zdroj.dok.NANOCON 2015: 7th International Conference on Nanomaterials - Research and Application, Conference Proceedings. - Ostrava : TANGER, spol. s r.o., 2015 - ISBN 978-80-87294-63-5
    Rozsah strans. 655-659
    Poč.str.5 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    AkceNANOCON 2015. International Conference /7./
    Datum konání14.10.2015 - 16.10.2015
    Místo konáníBrno
    ZeměCZ - Česká republika
    Typ akceEUR
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CZ - Česká republika
    Klíč. slovaScanning thermal microscopy ; figure of merit ; thermoeletric materials
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271 ; UMCH-V - RVO:61389013
    UT WOS000374708800114
    EID SCOPUS84962859646
    AnotaceNew materials with high possible figure of merit ZT are of high interest as a promising candidates for thermoelectric applications such as energy harvesting. Miniaturization of such systems tends toward developing of the suitable characterization method with nanometer resolution ability. In our contribution, we present the development and experimental results of a simple scanning probe microscopy method for the relative thermal conductivity characterization. The possibility of the setup is demonstrated on the set of different thin thermoelectric layers grown from hot pressed targets by pulsed laser deposition on the reference Si substrate. All the measurements were performed on the commercial Veeco Multimode scanning AFM/STM microscope with home developed controller and by using PicoCal Inc. bolometer probes with tungsten resistive path. All the experiments were done in the air at the ambient condition. Additional sample treatment for the measurement will be also briefly described
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2017
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.