Počet záznamů: 1  

Passivation effect of water vapour on thin film polycrystalline Si solar cells

  1. 1.
    SYSNO ASEP0469471
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevPassivation effect of water vapour on thin film polycrystalline Si solar cells
    Tvůrce(i) Pikna, Peter (FZU-D) RID
    Müller, Martin (FZU-D) RID, ORCID
    Becker, C. (DE)
    Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Celkový počet autorů4
    Zdroj.dok.Physica Status Solidi A : Applications and Materials Science. - : Wiley - ISSN 1862-6300
    Roč. 213, č. 7 (2016), s. 1969-1975
    Poč.str.6 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.DE - Německo
    Klíč. slovapassivation, ; plasma hydrogenation ; silicon ; solar cells ; thin films ; water vapour
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPLM2015087 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    GA13-12386S GA ČR - Grantová agentura ČR
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000385222900048
    EID SCOPUS84992299642
    DOI https://doi.org/10.1002/pssa.201533006
    AnotaceWe investigated a passivation of both surface and bulk of polycrystalline silicon films by water vapour by Suns-VOC method to measure the open-circuit voltage. A sufficiently high temperature (350–450 °C) is necessary for a successful silicon passivation. Different gases were tested beside water vapour (H2, H2 + H2O, O2 + H2O, air) but none of them resulted in higher VOC than pure steam (360 mV from starting 220 mV). Results from Fourier transform infrared spectroscopy indicate that water vapour passivation is rather oxidation while hydrogen plays a significant supporting role in the process. Water vapour is able to passivate defects in the whole silicon volume, but its passivation effect is not strong enough to become an adequate alternative to the plasma hydrogenation with the best result of VOC ∼497 mV. On the other hand, it provides advantage of simplicity (no vacuum system and deionised water steam as the only input).
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2017
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.