Počet záznamů: 1
Reflected and transmitted mode in the scanning low energy electron microscope
- 1.0467260 - ÚPT 2017 JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Mikmeková, Eliška - Mikmeková, Šárka - Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Reflected and transmitted mode in the scanning low energy electron microscope.
2nd Forum of Center for ADvanced Materials Research and International Collaboration (CAMRIC-FORUM2). Toyama: University of Toyama, 2016, s. 29-30.
[Forum of Center for ADvanced Materials Research and International Collaboration /2./ (CAMRIC-FORUM2). Toyama (JP), 13.10.2016-14.10.2016]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SLEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0265401
Počet záznamů: 1