Počet záznamů: 1  

Čtyřbodová nízkoteplotní sonda pro rychlé měření elektrického odporu vrstev

  1. 1.
    0454363 - ÚPT 2016 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Králík, Tomáš - Musilová, Věra - Hanzelka, Pavel
    Čtyřbodová nízkoteplotní sonda pro rychlé měření elektrického odporu vrstev.
    [Four-point probe for measurement of electrical resistivity of metallic layers at low temperatures.]
    Interní kód: APL-2015-06 ; 2015
    Technické parametry: Sonda umožňuje vložení kruhových vzorků o průměru do 40 mm, čtvercových o straně do 26,8 mm nebo obdélníků vepsaných do průměru 40 mm, vše do tloušťky 3 mm. Rozteč kontaktních hrotů je 5 mm. Stanovení teplotní závislosti odporu vzorku v rozsahu 4,2 K až 300 K lze provést během několika málo desítek minut. Neurčitost měření měrného odporu činí přibližně 5 % při neurčitosti teploty vzorku maximálně 0,1 K. Sonda je při řešení grantu používána pro stanovování měrného elektrického odporu a teploty supravodivého přechodu vzorků instalovaných do aparatury pro měření přestupu tepla v blízkém poli.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Tomáš Králík, Ph.D., kralik@isibrno.cz
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-07397S
    Klíčová slova: four-point probe * specific electrical resistivity * low temperatures
    Kód oboru RIV: JB - Senzory, čidla, měření a regulace

    Praktická čtyřbodová sonda je určena pro měření měrného elektrického odporu tenkých kovových vrstev při teplotách 4,2 K až 300 K. Sonda se prochlazuje zasunutím do hrdla komerční heliové Dewarovy nádoby. Požadovaná teplota vzorku se dosahuje kombinací polohy v hrdle a termostatováním. Při výpočtu měrného odporu je brán ohled na konečné rozměry vzorku. Neurčitost měření odporu činí přibližně 5% při neurčitosti teploty vzorku maximálně 0,1 K. Sonda byla použita i k měření kritické teploty a strmosti přechodu do supravodivého stavu nízkoteplotních supravodičů.

    A practical four-point probe for measurement of specific electrical resistivity of thin metallic layers at temperatures from 4.2 K to 300 K was designed and built. The probe is cooled by inserting into the neck of a commercial Dewar vessel. Temperature of the sample is set via thermostatic heating together with positioning of the probe in the Dewar neck. Finite dimensions of samples are taken into account. Uncertainties of measured resistivity and temperature are of about 5 % and less than 0.1 K, respectively. Alternatively, we used the probe for measurement of steepness and critical temperature of transition from normal to superconducting state of low temperature superconductors.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0255055
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.