Počet záznamů: 1
Reciprocal-space mapping for simultaneous determination of texture and stress in thin films
- 1.
SYSNO 0449326 Název Reciprocal-space mapping for simultaneous determination of texture and stress in thin films Tvůrce(i) Šimek, Daniel (FZU-D) RID, ORCID
Kužel, R. (CZ)
Rafaja, D. (DE)Zdroj.dok. Journal of Applied Crystallography. Roč. 39, č. 4 (2006), s. 487-501. - : Wiley Druh dok. Článek v odborném periodiku Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova texture * stress * X-ray diffraction * reciprocal space mapping Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0250882
Počet záznamů: 1