Počet záznamů: 1

Způsob hodnocení adheze funkční vrstvy k substrátu s využitím akustické emise

SYSNO ASEP	0447227
Druh ASEP	P - Patent
Zařazení RIV	P - Patent nebo jiný výsledek chráněný podle zvláštních právních předpisů
Název	Způsob hodnocení adheze funkční vrstvy k substrátu s využitím akustické emise
Překlad názvu	Method of evaluating adhesion of a functional layer to a substrate by making use of acoustic emission
Tvůrce(i)	Boháč, Petr (FZU-D)_{RID, ORCID} Tomáštík, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID} Cvrk, K. (CZ) Koula, V. (CZ) Čtvrtlík, Radim (FZU-D)_{RID, ORCID} Jastrabík, Lubomír (FZU-D)_{RID, ORCID} Hrabovský, Miroslav (FZU-D)_{RID, ORCID}
Rok vydání	2015
Využití jiným subj.	A - Pro využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Lic. popl.	A - Poskytovatel licence požaduje licenční poplatek
Číslo pat.spisu	305002
Datum udělení	04.02.2015
Vlastník patentu	Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i
Kód vydavatele patentu	CZ001 - Úřad průmyslového vlastnictví Prague
Využití	A - Pouze udělený (dosud nevyužívaný) patent nebo patent využívaný jeho vlastníkem
Jazyk dok.	cze - čeština
Klíč. slova	adhesion ; functional layer ; acoustic emission ; critical loading
Vědní obor RIV	BI - Akustika a kmity
CEP	TA03010743 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Anotace	V řízeném procesu nanoindentace se zaznamenávají údaje z průběhu vrypové zkoušky (zátěžná síla vs. hloubka penetrace v závislosti na čase) a současně se pořizuje digitalizovaný záznam generované akustické emise (AE). Mikrosnímek vrypu se zkompletuje se záznamem vrypové zkoušky a akustické emise vzhledem k počátku. Vysoký pík intenzity AE odpovídající podle mikrosnímku porušení adheze určí okamžik, kdy podle grafu zátěžné síly a okamžité polohy indentoru je dosaženo kritické zátěže LCA, způsobující porušení adheze vrstvy k substrátu.
Překlad anotace	The data of controlled nanoindentation process are recorded during a scratch test (loading force vs. depth of penetration depending on time), and simultaneously acquires the digitized record generated by acoustic emission (AE). Micrograph scratch is to assemble the record of scratch test and the acoustic emission with respect to the origin. High peak of AE intensities corresponding to the micrograph violation adhesion determines the moment when, according to the chart loading forces and the instantaneous position of the indenter is achieved the critical load LCA, causing a breach of adhesion to the substrate.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2016
Elektronická adresa	http://isdv.upv.cz/portal/pls/portal/portlets.pts.det?xprim=2093646&lan=cs&s_majs=&s_puvo=&s_naze=&s_anot=

Počet záznamů: 1