The precise refractive index of air measuring unit suitable for metrological scanning probe microscope

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0422034
Název	The precise refractive index of air measuring unit suitable for metrological scanning probe microscope
Tvůrce(i)	Hucl, Václav (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Čížek, Martin (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Buchta, Zdeněk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Mikel, Břetislav (UPT-D)_{RID, SAI} Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	NanoScale 2013. 10th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 6th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and methods.. S. 109. - Paris : Nanometrology Group, 2013
Konference	NanoScale 2013. Seminar on Quantitative Microscopy (QM) /10./ and Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods /6./, Paris, 25.04.2013-26.04.2013
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	GAP102/10/1813 GA ČR - Grantová agentura ČR
	FR-TI2/705 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	FR-TI1/241 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	EE2.4.31.0016 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	FR
Klíč.slova	refractive index of air * precise measurement * laser interferometer
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0228283

Počet záznamů: 1