Počet záznamů: 1
Several examples of using contact profilometer for optical surface mapping
- 1.
SYSNO ASEP 0399550 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Several examples of using contact profilometer for optical surface mapping Tvůrce(i) Havelková, Martina (FZU-D) RID, ORCID
Hiklová, H. (CZ)Celkový počet autorů 2 Zdroj.dok. Czech-Polish-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics /18./. - Bellingham : SPIE, 2012 / Peřina jr. J. ; Nožka L. ; Hrabovský M. ; Senderáková D. ; Urbańczyk W. - ISSN 0277-786X - ISBN 978-0-8194-9481-8 Poč.str. 7 s. Forma vydání Tištěná - P Akce Czech-Polish-Slovak optical conference on wave and quantum aspects of contemporary optics /18./ Datum konání 03.09.2012-07.09.2012 Místo konání Ostravice Země CZ - Česká republika Typ akce EUR Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova contact sensing ; contact profilometer ; mapping of optical surfaces Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEZ AV0Z10100522 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000319864100088 EID SCOPUS 84875944445 DOI 10.1117/12.2010362 Anotace The number of devices and methods for non-contact solid surface measurement and mapping is growing. Nevertheless contact devices still have value in measuring roughness, waviness and shape measurement. Modern contact devices measure without any negative influence to the surface and are even used for optical and other sensitive surfaces. Some examples are mentioned in the article below. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2014
Počet záznamů: 1