Počet záznamů: 1
Microcrystalline silicon thin films studied by photoconductive atomic force microscopy
SYS 0390947 LBL 02051^^^^^2200337^^^450 005 20240103202406.2 100 $a 20130318d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a JP 200 1-
$a Microcrystalline silicon thin films studied by photoconductive atomic force microscopy 215 $a 1 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0375350 $1 200 1 $a ICANS 24. Program and Abstracts Book $v S. 233-233 $1 210 $a Nara $d 2011 610 0-
$a amorphous silicon 610 0-
$a nanocrystalline silicon 610 0-
$a thin films 610 0-
$a atomic force microscopy 610 0-
$a photoconductivity 700 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $a Ledinský $b Martin $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0240734 $a Vetushka $b Aliaksi $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100533 $a Stuchlík $b Jiří $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100487 $a Rezek $b Bohuslav $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $a Kočka $b Jan $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1