Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0389053
Název	Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls
Tvůrce(i)	Vetushka, Aliaksi (FZU-D)_{RID, ORCID} Itoh, T. (JP) Nakanishi, Y. (JP) Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Nonomura, S. (JP) Ledinský, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 358, č. 17 (2012), s. 2545-2547. - : Elsevier
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	MEB061012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd
	240826, XE - země EU
	7E10061 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	NL
Klíč.slova	carbon nanowalls * conductive atomic force microscopy * torsion resonance mode * nanostructures
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0217956

Počet záznamů: 1