Počet záznamů: 1
Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls
- 1.Vetushka, A., Itoh, T., Nakanishi, Y., Fejfar, A., Nonomura, S., Ledinský, M., Kočka, J. Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls. Journal of Non-Crystalline Solids. 2012, 358(17), 2545-2547. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812. Dostupné z: doi: 10.1016/j.jnoncrysol.2011.12.094
Počet záznamů: 1