Počet záznamů: 1  

Current state and prospects of scintillation materials for detectors in SEM

  1. 1.
    SYSNO ASEP0386399
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevCurrent state and prospects of scintillation materials for detectors in SEM
    Tvůrce(i) Schauer, Petr (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Bok, Jan (UPT-D) RID
    Celkový počet autorů2
    Zdroj.dok.Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. - Brno : Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 / Mika F. - ISBN 978-80-87441-07-7
    Rozsah strans. 67-68
    Poč.str.2 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    AkceInternational Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./
    Datum konání25.06.2012-29.06.2012
    Místo konáníSkalský dvůr
    ZeměCZ - Česká republika
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CZ - Česká republika
    Klíč. slovaSEM ; scintillation materials
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPGAP102/10/1410 GA ČR - Grantová agentura ČR
    EE.2.3.20.0103 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    AnotaceThe two principal quantities are important for assessing the quality of each imaging system. Firstly, it is the detective quantum efficiency (DQE), which is primarily a measure of image noise. As the DQE is determined by signal to noise ratio (SNR), the efficient and noise-free components are the key to the high DQE. Second, not less important indicator of image quality is also the modulation transfer function (MTF). MTF describes the ability of adjacent pixels to change from black to white in response to patterns of varying spatial frequency, and hence it determines the actual capability to show fine detail, whether with full or reduced contrast. Using a scanning imaging system the fast components are the key to the good MTF. In a scintillation electron detector of scanning electron microscope (SEM) the scintillator is the most crucial component, because it significantly influences both the DQE and MTF. The aim of this study is to assess the scintillation materials suitable for SEM detectors characterized by the both high efficiency and fast decay characteristic.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2013
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.