0385786 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hucl, Václav - Čížek, Martin - Buchta, Zdeněk - Mikel, Břetislav - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
The smart electronic unit for precise measurement of refractive index of air in a nano-positioning stage for scanning probe microscopy (SPM).
NANOCON 2012, 4th International Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2012, s. 817-821. ISBN 978-80-87294-32-1.
[NANOCON 2012. International Conference /4./. Brno (CZ), 23.10.2012-25.10.2012]
Grant CEP: GA MPO FR-TI2/705; GA MPO FR-TI1/241; GA ČR GAP102/10/1813
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: refractive index of air * precise measurement * laser interferometer
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215562