Backscattered electrons in examination of materials

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0379918
Název	Backscattered electrons in examination of materials
Tvůrce(i)	Pokorná, Zuzana (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Matsuda, K. (JP) Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. 940:1-2. - Wembley : EECW Pty Ltd, 2012
Konference	Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22), Perth, 05.02.2012-09.02.2012
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	GAP108/11/2270 GA ČR - Grantová agentura ČR
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	AU
Klíč.slova	scanning electron microscope * backscattered electrons * cathode lens
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0210769

Počet záznamů: 1