Počet záznamů: 1
Backscattered electrons in examination of materials
- 1.
SYSNO ASEP 0379918 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Backscattered electrons in examination of materials Tvůrce(i) Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Matsuda, K. (JP)
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 5 Zdroj.dok. Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. - Wembley : EECW Pty Ltd, 2012 - ISBN 978-1-74052-245-8 Rozsah stran 940:1-2 Poč.str. 2 s. Forma vydání Tištěná - P Akce Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22) Datum konání 05.02.2012-09.02.2012 Místo konání Perth Země AU - Austrálie Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. AU - Austrálie Klíč. slova scanning electron microscope ; backscattered electrons ; cathode lens Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP GAP108/11/2270 GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace Methods employing the emission of backscattered electrons from surfaces of materials in determination of their chemical composition and crystallinic and electronic structures are summarized. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2013
Počet záznamů: 1