Applications of the Scanning Low Energy Electron Microscope

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO ASEP	0379913
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Ostatní články
Název	Applications of the Scanning Low Energy Electron Microscope
Tvůrce(i)	Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Mikmeková, Eliška (UPT-D)_RID Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Hovorka, Miloš (UPT-D) Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Celkový počet autorů	5
Zdroj.dok.	Microscopy and Microanalysis. - : Cambridge University Press - ISSN 1431-9276 Roč. 18, S2 (2012), s. 996-997
Poč.str.	2 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	US - Spojené státy americké
Klíč. slova	scanning low energy electron microscope ; cathode lens
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP	FR-TI3/323 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
DOI	10.1017/S1431927612006836
Anotace	Recent applications of the Scanning Low Energy Electron Microscope (SLEEM) are presented. The device employs the electron signal reflected from the specimen as well as that transmitted through the specimen for observation throughout the full energy scale down to units of electronvolts.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2012

Počet záznamů: 1