Microscopic characterizations of nanostructured silicon thin films for solar cells

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0375054
Název	Microscopic characterizations of nanostructured silicon thin films for solar cells
Tvůrce(i)	Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Klapetek, P. (CZ) Zlámal, J. (CZ) Vetushka, Aliaksi (FZU-D)_{RID, ORCID} Ledinský, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Amorphous and Polycrystalline Thin-Film Silicon Science and Technology. S. 313-321. - Warrendale : MRS, 2011 / Yan B. ; Higashi S. ; Tsai C.C. ; Wang Q. ; Gleskova H.
Konference	Materials Research Society Spring Meeting, San Francisko, 25.04.2011-29.04.2011
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	MEB061012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd
	LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	no. 240826, XE - země EU
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	US
Klíč.slova	silicon * scanning probe methods * solar cells
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0207821

Počet záznamů: 1