Počet záznamů: 1  

Microscopic characterizations of nanostructured silicon thin films for solar cells

  1. 1.
    SYSNO ASEP0375054
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevMicroscopic characterizations of nanostructured silicon thin films for solar cells
    Tvůrce(i) Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Klapetek, P. (CZ)
    Zlámal, J. (CZ)
    Vetushka, Aliaksi (FZU-D) RID, ORCID
    Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok.Amorphous and Polycrystalline Thin-Film Silicon Science and Technology. - Warrendale : MRS, 2011 / Yan B. ; Higashi S. ; Tsai C.C. ; Wang Q. ; Gleskova H. - ISBN 9781605112985
    Rozsah strans. 313-321
    Poč.str.9 s.
    AkceMaterials Research Society Spring Meeting
    Datum konání25.04.2011-29.04.2011
    Místo konáníSan Francisko
    ZeměUS - Spojené státy americké
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovasilicon ; scanning probe methods ; solar cells
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPLC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    MEB061012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd
    LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    CEZAV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
    DOI10.1557/opl.2011.1097
    AnotaceMicroscopic characterization of mixed phase silicon thin films by conductive atomic force microscopy (C-AFM) was used to study the structure composed of conical microcrystalline grains dispersed in amorphous matrix. C-AFM experiments were interpreted using simulations of electric field and current distributions. Density of absorbed optical power was calculated by numerically solving the Maxwell equations. The goal of this study is to combine both models in order to simulate local photoconductivity for understanding the charge photogeneration and collection in nanostructured solar cells.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2012
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.