Role of current profiles and atomic force microscope tips on local electric crystallization of amorphous silicon

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0354945
Název	Role of current profiles and atomic force microscope tips on local electric crystallization of amorphous silicon
Tvůrce(i)	Verveniotis, Elisseos (FZU-D)_RID Rezek, Bohuslav (FZU-D)_{RID, ORCID} Šípek, Emil (FZU-D) Stuchlík, Jiří (FZU-D)_{RID, ORCID} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Thin Solid Films. Roč. 518, č. 21 (2010), s. 5965-5970. - : Elsevier
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	GD202/09/H041 GA ČR - Grantová agentura ČR
	LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd
	LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CH
Klíč.slova	amorphous materials * atomic force microscopy (AFM) * conductivity * crystallization * nanostructures * silicon * nickel
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0193834

Počet záznamů: 1