Počet záznamů: 1
X-ray diffraction analysis of multilayer porous InP(001) structure
- 1.
SYSNO 0351779 Název X-ray diffraction analysis of multilayer porous InP(001) structure Tvůrce(i) Lomov, A. A. (RU)
Punegov, V. I. (RU)
Vasil'ev, A. L. (RU)
Nohavica, Dušan (URE-Y)
Gladkov, Petar (URE-Y)
Kartsev, A. A. (DE)
Novikov, D. V. (DE)Zdroj.dok. Crystallography Reports. Roč. 55, č. 2 (2010), s. 182-190. - : Pleiades Publishing Druh dok. Článek v odborném periodiku CEZ AV0Z20670512 - URE-Y (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. RU Klíč.slova silicon layers * INP Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0191457
Počet záznamů: 1