Počet záznamů: 1
Investigations of laser-induced damages in fused silica optics using x-ray laser interferometric microscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0347553 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Investigations of laser-induced damages in fused silica optics using x-ray laser interferometric microscopy Tvůrce(i) Margarone, Daniele (FZU-D) RID, ORCID
Rus, Bedřich (FZU-D) ORCID
Kozlová, Michaela (FZU-D) RID, ORCID
Nejdl, Jaroslav (FZU-D) RID, ORCID
Mocek, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Homer, Pavel (FZU-D) RID
Polan, Jiří (FZU-D)
Stupka, Michal (FZU-D)
Cassou, K. (FR)
Kazamias, S. (FR)
Lagron, J.C. (FR)
Ros, D. (FR)
Danson, C. (GB)
Hawkes, S. (GB)Zdroj.dok. Journal of Applied Physics. - : AIP Publishing - ISSN 0021-8979
Roč. 107, č. 10 (2010), 103103/1-103103/7Poč.str. 7 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova laser beam effects ; light interferometry ; mirrors ; optical materials ; optical self-focusing ; optical arrays ; optical beam splitters Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP 7E08099 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA100100911 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000278182400003 DOI 10.1063/1.3373696 Anotace A novel x-ray laser (XRL) application, aimed at understanding the microscopic effects involved in formation of laser-induced damage in optical materials exposed to high-power sub-ns laser pulses, is presented. Standard fused silica substrates with permanent damage threshold below 20 J /cm2, when irradiated by 438 nm laser pulses, were probed in situ by a neonlike zinc XRL at 21.2 nm. The probing beamline employed a double Lloyd’s mirror x-ray interferometer, used in conjunction with an imaging mirror to achieve magnification of ~8. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1