Počet záznamů: 1
Structure of mixed-phase Si films studied by C-AFM and X-TEM
- 1.
SYSNO 0341955 Název Structure of mixed-phase Si films studied by C-AFM and X-TEM Aut.údaje aut. Tomáš Mates, P.C.P. Bronsveld, Antonín Fejfar, Bohuslav Rezek, Jan Kočka, J.K. Rath, R.E.I. Schropp Překlad názvu Struktura smíšené fáze tenkých křemíkových vrstev studovaná pomocí vodivostního AFM a průřezového TEM Tvůrce(i) Mates, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
Bronsveld, P.C.P. (NL)
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Rezek, Bohuslav (FZU-D) RID, ORCID
Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Rath, J.K. (NL)
Schropp, R.E.I. (NL)Zdroj.dok. Journal of Physics: Conference Series. Roč. 61, - (2007), s. 790-794. - : Institute of Physics Publishing Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant SN/3/172/05 GA MŽP - Ministerstvo životního prostředí, CZ - Česká republika Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova microcrystalline silicon * conductive AFM * cross-sectional TEM Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0184793
Počet záznamů: 1