Počet záznamů: 1
Structure of mixed-phase Si films studied by C-AFM and X-TEM
- 1.
SYSNO ASEP 0341955 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Structure of mixed-phase Si films studied by C-AFM and X-TEM Překlad názvu Struktura smíšené fáze tenkých křemíkových vrstev studovaná pomocí vodivostního AFM a průřezového TEM Tvůrce(i) Mates, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
Bronsveld, P.C.P. (NL)
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Rezek, Bohuslav (FZU-D) RID, ORCID
Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Rath, J.K. (NL)
Schropp, R.E.I. (NL)Zdroj.dok. Journal of Physics: Conference Series. - : Institute of Physics Publishing - ISSN 1742-6588
Roč. 61, - (2007), s. 790-794Poč.str. 5 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova microcrystalline silicon ; conductive AFM ; cross-sectional TEM Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP SN/3/172/05 GA MŽP - Ministerstvo životního prostředí Anotace Thin Si films prepared at low temperature and containing microcrystalline grains in amorphous tissue were studied by two complementary microscopy techniques - conductive AFM and cross-sectional TEM. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1