Počet záznamů: 1
Structure of mixed-phase Si films studied by C-AFM and X-TEM
SYS 0341955 LBL 01929^^^^^2200397^^^450 005 20240103193410.5 100 $a 20080206d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a GB 200 1-
$a Structure of mixed-phase Si films studied by C-AFM and X-TEM $f aut. Tomáš Mates, P.C.P. Bronsveld, Antonín Fejfar, Bohuslav Rezek, Jan Kočka, J.K. Rath, R.E.I. Schropp 215 $a 5 s. 300 $a záměrná duplicita - doplnění grantu SN/3/172/05 do RIV 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0420613 $1 011 $a 1742-6588 $e 1742-6596 $1 200 1 $a Journal of Physics: Conference Series $v Roč. 61, - (2007), s. 790-794 $1 210 $c Institute of Physics Publishing 541 1-
$a Struktura smíšené fáze tenkých křemíkových vrstev studovaná pomocí vodivostního AFM a průřezového TEM $z cze 610 0-
$a microcrystalline silicon 610 0-
$a conductive AFM 610 0-
$a cross-sectional TEM 700 -1
$3 cav_un_auth*0100379 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Mates $b Tomáš $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0216306 $4 070 $a Bronsveld $b P.C.P. $y NL 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Fejfar $b Antonín $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100487 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Rezek $b Bohuslav $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Kočka $b Jan $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0216307 $4 070 $a Rath $b J.K. $y NL 701 -1
$3 cav_un_auth*0216308 $4 070 $a Schropp $b R.E.I. $y NL
Počet záznamů: 1