Počet záznamů: 1
SHIM and TPEM: Getting More Information from Non Linear Excitation
- 1.0313399 - FGÚ 2009 ES eng A - Abstrakt
Bianchini, P. - Vicidomini, G. - Mondal, P. P. - Ramoino, P. - Usai, C. - Janáček, Jiří - Kubínová, Lucie - Diaspro, A.
SHIM and TPEM: Getting More Information from Non Linear Excitation.
[SHIM a TPFM: více informace z nelineární excitace.]
Focus on Microscopy. Valencia: University of Valencia, 2007. s. 136-136.
[Focus on Microscopy FOM 2007. 10.04.2007-13.04.2007, Valencia]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z50110509
Klíčová slova: spr2 * SHIM * SHG * TPEF
Kód oboru RIV: EA - Morfologické obory a cytologie
Second Harmonic Imaging Microscopy with Two Photon Excitation Microscopy enables visualization of different biological samples without extra labelling
SHIM s TPEM umožňuje zobrazení různých biologických struktur bez dalšího značení vzorku
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0164229
Počet záznamů: 1