Počet záznamů: 1
Microscopic study of the H.sub.2./sub.O vapor treatment of the silicon grain boundaries
- 1.Honda, Shinya - Mates, Tomáš - Rezek, Bohuslav - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
Microscopic study of the H2O vapor treatment of the silicon grain boundaries.
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 354, č. 19-25 (2008), s. 2310-2313. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA ČR(CZ) GD202/05/H003; GA AV ČR IAA1010316; GA MŠMT LC510; GA AV ČR IAA1010413; GA AV ČR KJB100100512; GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
Impakt faktor: 1.449, rok: 2008 ; AIS: 0.542, rok: 2008
DOI: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2007.09.107
http://hdl.handle.net/11104/0163616
Počet záznamů: 1