Počet záznamů: 1
Characterization of polystyrene and doped polymethylmethacrylate thin layers
- 1.
SYSNO 0307936 Název Characterization of polystyrene and doped polymethylmethacrylate thin layers Překlad názvu Charakteristiky tenkých vrstev polystyrenu a dopovaného polymethylmet krystalu Tvůrce(i) Podgrabinski, T. (CZ)
Hrabovská, E. (CZ)
Švorčík, V. (CZ)
Hnatowicz, Vladimír (UJF-V) RIDZdroj.dok. Journal of Materials Science-Materials in Electronics. Roč. 16, 11-12 (2005), s. 761-765. - : Springer Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA106/03/0514 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10480505 - UJF-V (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. NL Klíč.slova dielectrical properties Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0160560
Počet záznamů: 1