Zpravodaj ČVS. - : Česká vakuová společnost
- ISSN 1213-2705
Roč. 15, 1/2 (2007), s. 32-40
Poč.str.
9 s.
Akce
Letní škola vakuové techniky
Datum konání
04.06.2007-07.06.2007
Místo konání
Štrbské pleso
Země
SK - Slovensko
Typ akce
CST
Jazyk dok.
cze - čeština
Země vyd.
CZ - Česká republika
Klíč. slova
secondary ion mass spectrometry
Vědní obor RIV
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEZ
AV0Z20670512 - URE-Y (2005-2011)
Anotace
Cílem práce je ukázat aplikační možnosti metody hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů - SIMS při analýze tenkých vrstev a povrchů.
Překlad anotace
The aim of this work was to demonstrate the aplication potential of the Secondary Ion Mass Spectrometry – SIMS in the analysis of thin films and solid surfaces.
