Počet záznamů: 1
Schottky bariers as a diagnostic tool for evaluating properties of InP epitaxial layers prepared from melts containing rare-earth elements
- 1.
SYSNO 0303691 Název Schottky bariers as a diagnostic tool for evaluating properties of InP epitaxial layers prepared from melts containing rare-earth elements Tvůrce(i) Procházková, Olga (URE-Y)
Šrobár, Fedor (URE-Y)
Jelínek, František (URE-Y)
Šaroch, Jaroslav (URE-Y)
Žďánský, Karel (URE-Y)Zdroj.dok. ASDAM 2000. Conference Proceedings of the 3rd International Euro Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. s. 197-199 / Osvald J. ; Haščík Š. ; Kuzmík J. ; Breza J. Vyd. údaje Piscataway: IEEE, 2000 ISBN 0-7803-5939-9 Konference ASDAM 2000, Smolenice, 16.10.2000-18.10.2000 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant GA102/99/0341 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z2067918 - URE-Y Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova semiconductors * rare earth compounds Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0113878
Počet záznamů: 1